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Principais Equipamentos

Microtomógrafo de Raios X, marca: Nikon Metrology, modelo: XTH 225 ST. O tomógrafo XTH 225 ST é utilizado para a inspeção e análise tridimensional de materiais por meio da tomografia computadorizada de raios X, permitindo a visualização interna e a caracterização de microestruturas com alta resolução. Ele é amplamente aplicado em pesquisas científicas e industriais.
Computador de Adquicisção Industrial
O computador de aquisição do tomógrafo XTH 225 ST é responsável por capturar, processar e armazenar os dados das imagens tomográficas em alta resolução, garantindo a reconstrução precisa das amostras analisadas.


Computador de alto desempenho para Reconstrução e Análise de imagens tomográficas de alta resolução: RECON
O computador de alta performance para análises e reconstrução é utilizado para processar grandes volumes de dados tomográficos, realizar a reconstrução tridimensional das amostras e aplicar algoritmos avançados de segmentação e análise quantitativa.
Computador de alto desempenho para Reconstrução e Análise de imagens tomográficas de alta resolução: PRH
O computador de alta performance para análises e reconstrução é utilizado para processar grandes volumes de dados tomográficos, realizar a reconstrução tridimensional das amostras e aplicar algoritmos avançados de segmentação e análise quantitativa.


Cluster de Alto Desempenho SGI
Computadores de Alto Desempenho para Reconstrução e Análise de imagens tomográficas de alta resolução: TYAR-SERVERs
Os Servidores de Alta Performance para análises e reconstrução são utilizados para processar grandes volumes de dados tomográficos, realizar a reconstrução tridimensional das amostras e aplicar algoritmos avançados de segmentação e análise quantitativa.


Estufa Microprocessada de Secagem, marca Quimis, modelo Q317M-32.
a Estufa Microprocessada de Secagem Quimis Q317M-32 é utilizada para a secagem controlada de amostras antes da realização das análises tomográficas, evitando interferências da umidade na obtenção e na qualidade das imagens, garantindo resultados mais precisos na caracterização microestrutural.





